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锦正茂科技 高阻型半导体材料测量仪器 实验 霍尔效应测试仪JH60E
公司信息
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    古先生
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    经理
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    𐀙𐀚𐀛𐀜𐀙𐀜𐀝𐀙𐀝𐀚𐀝
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    北京 大兴区 北京市大兴区新源大街25号院7号楼2层
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锦正茂科技 高阻型半导体材料测量仪器 实验 霍尔效应测试仪JH60E
订货量(台) 价格
≥1 25万元/
  • 发 货 期:不限
  • 所 在 地:北京 大兴区
  • 手     机: 𐀙𐀚𐀛𐀜𐀙𐀜𐀝𐀙𐀝𐀚𐀝

详细信息

品牌: 锦正茂 规格: 高阻型
类型: 型号: JH60E
重量: Kg 加工定制:
产地: 国产 是否支持加工定制:
LCD显示更新: 安装方式:
包装规格: 波长范围:
材料: 材质:
采样流量范围: 操作方式:
测定时间: 测光方式:
测量对象: 测量范围:
测量精度: 测量口径:
测量时间: 测量重复性:
测试范围: 尺寸:
出瞳距离: 出瞳直径:
电源: 反射率:
放大倍率: 放大倍数:
放大率: 分辨率: 0.1GS
分度值: 分析时间:
格值: 工作电压:
工作温度: 功率:
光度范围: 光洁度:
光源: 厚度:
环境温度: 计数范围:
检测低限: 检测厚度:
检测精度: 检测距离:
检测项目: 检出范围:
焦距: 结构:
结构型式: 解析度:
介电强度: 精度:
精密度: 精确度:
可测样品状态: 刻度圆直径:
连续工作时间: 联轴器类型:
量程范围: 滤色片规格:
频率范围: 品种:
取样率: 取样时间:
入射角: 扫描范围:
扫描方式: 升降范围:
是否配备十字线: 示值误差:
视场: 视野:
适用范围: 适用介质:
适用样品: 输出电压:
输入信号电压: 探头型式:
通道数: 投影方式:
透光率: 温度补偿范围:
物镜直径: 显示范围:
显示方式: 响应时间:
序列号: 颜色:
有效视距: 有效像素:
有效直径: 噪声:
长度: 种类:
重复性误差: 装箱数:
准确度: 紫外波长:
紫外功率: 最近工作距离:
封装: 标准封装 用途: 霍尔效应测试
产品: 霍尔效应测试仪 数量: 600








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